В лабораторию геометрических измерений доставлено высокоточное оборудование — этап измерений в нанодиапазоне

Доставлено высокоточное образцовое средство измерений для поверки и калибровки удельной шероховатости, т.е. образцов выпуклой поверхности с диапазоном измерений до 800 μm.
Контурограф-профилометр, изготовленный в Японии, предназначен для определения параметров и профилей выпуклости различных частей и плоских частей, вращающих сторон средств измерений, а также геометрических параметров (радиуса дуги, координат точки, расстояний, углов и т.д.) в измеряемых профилях.
Данный контурограф-профилометр обеспечивает высокоточные измерения и прослеживаемость на международном уровне в аналитической лабораторной деятельности, в сфере станкостроения, транспорта, тяжелой и легкой промышленности, фармацевтики и строительства.
В настоящее время ведутся работы по расширению области аккредитации по калибровке размеров поверхности выпуклости на основе стандартных методов по шкалам Rа, Rz, Rmax, Rp, Sm, tp, Rv, Rq, S, являющимся основными. К этому процессу также привлечены иностранные технические эксперты.
Следите за нами, мы будем освещать новости отрасли.

Пресс служба